Mitutoyo M Plan Apo NIR HR 50×378-863-5

 上述規格欄中的分辨力和物鏡單體焦深是根據基準波長(λ＝0.55μm)計算得出的值。
注)使用的波長如果在1100nm以上，玻璃色散的變化和折射率等的測量可能會出現誤差，略微偏離可見光的聚焦位置

 M Plan Apo NIR HR 50× 378-863-5 0.65 10.0 4 0.4 0.7 0.48 0.10×0.13 450
M Plan Apo NIR HR 100× 378-864-5 0.70 10.0 2 0.4 0.6 0.24 0.05×0.06 450

 • 采用天然花崗巖材料，可確保性能和尺寸的
穩定性。
• 花崗巖平臺的性能在很多方面優于鑄鐵平
臺：
硬度是鑄鐵的兩倍。非磁性。尺寸受溫度影
響小。
• 無扭曲變形，不會影響工作。
• 由于花崗巖平臺的晶體結構精細，無粘滯性，
不會產生毛刺或表面凸起現象，因此可保證
長期使用也可確保很高的平面度，不會損壞
工件或儀器

 • 需在一個穩定的溫度環境中使用。
由于上表面和后表面的溫度差產生的平面度
誤差，所以應避免在陽光直射下使用。此外，
不要放置在空調等附近。
推薦使用環境：溫度20±1ºC，濕度58±2%。

 投影儀
PJ-H30 系列 / PJ-A3000 系列J-3
PV-5110 / PH-3515F J-4
精密量儀· 量具的小知識J-5
顯微鏡
測量顯微鏡
MF 系列 (Z軸電動型/電動型) J-6
MF-U 系列J-7
Z軸電動型/電動型J-8
Hyper MF / MF-U J-9
工具顯微鏡
TM-500 系列J-10
影像測量系統
Vision Unit J-11
2D 數據處理器
QM-Data200 J-12
視頻顯微鏡系統
VMU J-13
WIDE VMU J-13
半導體檢測用顯微鏡單元
FS-70 系列J-14
物鏡
FS 系列物鏡J-15
可變焦距鏡頭
TAGLENS J-15
精密量儀· 量具的小知識J-16

 • ø306mm 屏幕能使正像更加清晰可見。
• 使用具有等焦3- 鏡頭卡扣式旋轉盤。
• 使用升降立柱機械結構。
• XY 手柄內的快速釋放控制能使工作臺進給在粗調和微調之間切換。
• 所有型號均為帶光柵尺的高精度工作臺。
• 所有尺寸工作臺在X 和Y 軸方向均可實現(3+0.02L)μm 的高測量精度。
• 高精度尋邊器(OPTOEYE) 的型號。
• 測量范圍(300×170mm)，為三豐同類產品中

Mitutoyo M Plan Apo NIR HR 50×378-863-5