更新時間:2024-08-05
日本INTECS鹵素燈光源裝置UIH-1C用于目視檢查的超亮照明裝置將高強度的光照射到物體(* 1)時,會發生傾斜現象,并且可以輕松地從視覺上確認表面上的劃痕和碎屑,內部的異物和氣泡。u003c/ su003e u003c/ su003e u003c/ su003e* 1:半導體晶片,掩模玻璃,硬盤,液晶面板,透鏡等!
品牌 | 其他品牌 | 應用領域 | 環保 |
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日本INTECS鹵素燈光源裝置UIH-1C
用于目視檢查的超亮照明裝置UIH-1C
將高強度的光照射到物體(* 1)時,會發生傾斜現象,并且可以輕松地從視覺上確認表面上的劃痕和碎屑,內部的異物和氣泡。
u003c/ su003e u003c/ su003e u003c/ su003e
* 1:半導體晶片,掩模玻璃,硬盤,液晶面板,透鏡等!
UIH-1C型仕様
ランプ定格 | 15V 150W |
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設計照射徑と距離 | ランプ鏡筒先端から180mmでφ40mm |
高輝度 | 上記照射徑中央にて約60萬ルクス |
50萬ルクス時の照射徑 | 約φ45mm |
倍徑時距離と輝度 | 360mm 約15萬ルクス |
輝度偏差と可変幅 | 高輝度偏差:上限10%、下限20% 可変幅 10:1以上 |
高輝度ランプ壽命 | 50時間以上 |
半輝度ランプ壽命 | 800時間以上 |
調光方式 | SCR位相制御 |
ランプハウス內冷卻 | ファンによる強制空冷方式 |
ランプハウス內発熱監視 | 無し |
ランプハウス冷卻保持(※1) | 無し |
電源 | AC100V トランス式 |
総重量 | 約7kg |
※1 ランプ保護の為、主電源スイッチをOFFにしてもランプハウス內の溫度が約40℃以下になるまで
ファンによる冷卻を保持する機能
通常,目視檢查半導體晶片,掩模玻璃等會發現劃痕,灰塵,內部異物和氣泡。
發現需要技巧。開發該設備是為了方便進行這些檢查。
通過用高強度的光照射物體(* 1),會產生切痕現象,并且會產生劃痕,灰塵等。
您可以檢查灰塵,內部異物,氣泡等的附著力。
* 1半導體晶片,掩模玻璃,光學零件,透鏡等UIH-1C