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日本INTECS鹵素燈光源裝置UIH-1C

更新時間:2024-08-05

簡要描述:

日本INTECS鹵素燈光源裝置UIH-1C
用于目視檢查的超亮照明裝置
將高強度的光照射到物體(* 1)時,會發生傾斜現象,并且可以輕松地從視覺上確認表面上的劃痕和碎屑,內部的異物和氣泡。

u003c/ su003e u003c/ su003e u003c/ su003e

* 1:半導體晶片,掩模玻璃,硬盤,液晶面板,透鏡等!

型號:廠商性質:經銷商瀏覽量:2617
品牌其他品牌應用領域環保

日本INTECS鹵素燈光源裝置UIH-1C

 用于目視檢查的超亮照明裝置UIH-1C

 將高強度的光照射到物體(* 1)時,會發生傾斜現象,并且可以輕松地從視覺上確認表面上的劃痕和碎屑,內部的異物和氣泡。

u003c/ su003e u003c/ su003e u003c/ su003e

* 1:半導體晶片,掩模玻璃,硬盤,液晶面板,透鏡等!

 UIH-1C型仕様

 

ランプ定格15V 150W
設計照射徑と距離ランプ鏡筒先端から180mmでφ40mm
高輝度上記照射徑中央にて約60萬ルクス
50萬ルクス時の照射徑約φ45mm
倍徑時距離と輝度360mm 約15萬ルクス
輝度偏差と可変幅高輝度偏差:上限10%、下限20%  可変幅 10:1以上
高輝度ランプ壽命50時間以上
半輝度ランプ壽命800時間以上
調光方式SCR位相制御
ランプハウス內冷卻ファンによる強制空冷方式
ランプハウス內発熱監視無し
ランプハウス冷卻保持(※1)無し
電源AC100V トランス式
総重量約7kg

※1 ランプ保護の為、主電源スイッチをOFFにしてもランプハウス內の溫度が約40℃以下になるまで
    ファンによる冷卻を保持する機能

 

 

通常,目視檢查半導體晶片,掩模玻璃等會發現劃痕,灰塵,內部異物和氣泡。

發現需要技巧。開發該設備是為了方便進行這些檢查。

通過用高強度的光照射物體(* 1),會產生切痕現象,并且會產生劃痕,灰塵等。

您可以檢查灰塵,內部異物,氣泡等的附著力。

* 1半導體晶片,掩模玻璃,光學零件,透鏡等UIH-1C

 

 

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