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日本INTECS目視檢查用鹵素光源裝置UIH-1H 拋光晶片霧度照明裝置，用于目測

日本INTECS鹵素燈光源裝置UIH-1C 用于目視檢查的超亮照明裝置 將高強度的光照射到物體（* 1）時，會發生傾斜現象，并且可以輕松地從視覺上確認表面上的劃痕和碎屑，內部的異物和氣泡。 u003c/ su003e u003c/ su003e u003c/ su003e * 1：半導體晶片，掩模玻璃，硬盤，液晶面板，透鏡等！

日本INTECS鹵素光源裝置鹵素燈UIH-2D 超高輝度検査用照明裝置（ＵＩＨ－２Ｄ型） 一般的に半導體ウエハーやマスクガラス等の目視検査で、傷やごみ、內部異物や気泡を 発見する為には熟練を要します。これらの検査を容易に行うために開発した裝置です。 対象物（※１）に高輝度の光を照射することにより、チンダル現象を発生させて傷やゴミ、 埃の付著、內部の異物、気泡等を確認することが出來ます。

UIH-3D鹵素燈光源裝置日本INTECS 一種用于無損測量半導體晶片橫截面形狀尺寸的設備。您可以測量晶圓邊緣的尺寸，角度和半徑