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日本電測(cè)膜厚計(jì)QNIx系列

更新時(shí)間:2024-08-03

簡(jiǎn)要描述:

便攜式薄膜厚度計(jì),易于提高薄膜厚度測(cè)量的生產(chǎn)效率,這很容易

QNIx系列產(chǎn)品只能使用超輕型緊湊型儀器和探頭測(cè)量薄膜厚度,而無(wú)需攜帶厚膜厚度計(jì)。日本電測(cè)膜厚計(jì)QNIx系列
沒(méi)有電纜通過(guò)無(wú)線測(cè)量。除了便于將測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)絺€(gè)人計(jì)算機(jī)之外,它還有助于防止測(cè)量期間墜落事故。

型號(hào):廠商性質(zhì):經(jīng)銷商瀏覽量:862
產(chǎn)地類別進(jìn)口

QNIx系列

QNIx系列


便攜式薄膜厚度計(jì),易于提高薄膜厚度測(cè)量的生產(chǎn)效率,這很容易

QNIx系列產(chǎn)品只能使用超輕型緊湊型儀器和探頭測(cè)量薄膜厚度,而無(wú)需攜帶厚膜厚度計(jì)。
沒(méi)有電纜通過(guò)無(wú)線測(cè)量。除了便于將測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)絺€(gè)人計(jì)算機(jī)之外,它還有助于防止測(cè)量期間墜落事故。

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QNIx系列的特點(diǎn)

無(wú)需膠片校準(zhǔn)即可測(cè)量薄膜厚度

從工廠輸入16Point校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。這消除了對(duì)繁瑣的膠片校準(zhǔn)的需要并且允許的膜厚度測(cè)量。

薄膜厚度測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸新技術(shù)

在傳統(tǒng)的測(cè)量?jī)x器中,電纜連接到儀器主體和PC以傳輸測(cè)量數(shù)據(jù)。QNIx系列使用“無(wú)線Dongle”,只需將其插入U(xiǎn)SB端口即可進(jìn)行傳輸。可以更快速,更輕松地查看測(cè)量數(shù)據(jù)。

超輕量級(jí)無(wú)線測(cè)量?jī)x器

探頭測(cè)量的數(shù)據(jù)無(wú)線發(fā)送到主機(jī)。與傳統(tǒng)產(chǎn)品一樣,電纜可能會(huì)卡住或擋住,從而降低跌落的風(fēng)險(xiǎn)。此外,探頭重量超輕30g,無(wú)需攜帶重型儀器。

探針難以斷裂,并且不會(huì)在測(cè)量對(duì)象上留下任何痕跡

QNIx系列的探頭被增強(qiáng)塑料包圍,其耐用性提高了30%。即使在不太可能發(fā)生故障的情況下,也可以縮短維修時(shí)間,因?yàn)椴鹦逗途S修很容易。此外,還附有紅寶石芯片,可以安全地測(cè)量,而不會(huì)損壞樣品(樣品)。

QNIx系列的特點(diǎn)

QNIx系列的特點(diǎn)

免費(fèi)質(zhì)量3年保修

我們通過(guò)與德國(guó)自動(dòng)化博士Nix的技術(shù)合作,保證完善的售后服務(wù)。只有質(zhì)量信心,我們才能保證三年免費(fèi)保修。

※定期測(cè)試,測(cè)試報(bào)告,因操作不當(dāng)造成的損壞(外殼損壞,電池蓋丟失等),機(jī)身和探頭耦合方式錯(cuò)誤,電池漏液,電池電極混合,紅寶石芯片損壞3年免費(fèi)不在保修范圍內(nèi)。

QNIx系列比較規(guī)格表

 QNIx 8500QNIx 
4500/4200
QNIx 7500QNIx Carcheck系統(tǒng)QNIx Handy
可衡量的電影[F]鐵材料上的非磁性涂層
[N]有色金屬材料上的非導(dǎo)電涂層
[FN]鐵和有色金屬材料上的非磁性和非導(dǎo)電涂層
【FN】鐵和有色金屬材料上的非磁性和非導(dǎo)電涂層[FN]鐵和鋁材料上的非磁性和非導(dǎo)電薄膜厚度
材料識(shí)別
自動(dòng)識(shí)別和交換黑色和有色金屬材料

自動(dòng)識(shí)別和交換黑色和有色金屬材料
用戶的轉(zhuǎn)換
自動(dòng)識(shí)別和交換黑色和有色金屬材料
鐵,有色金屬,自動(dòng)識(shí)別模式轉(zhuǎn)換
測(cè)量原理【F】磁通量(霍爾效應(yīng))
【N】渦流
測(cè)量范圍0至2,000μm 
(選項(xiàng):5,000μm)
0至3,000微米0至2,000μm 
(選項(xiàng):5,000μm)
0至5,000微米0至500微米

分辨率
0.1μm,1μm 
【M】 0.01μm
1微米0.1微米0.1μm,1μm5微米
配置格式0點(diǎn)校正
用戶校準(zhǔn):1 
[M] 100
0點(diǎn)校正0點(diǎn)校正沒(méi)有校準(zhǔn)功能沒(méi)有校準(zhǔn)功能
準(zhǔn)確性±(1μm+ 2%)
±3.5%
(2 mm以上)
[T] ± 
(0.3μm+ 2%)
±(2μm+ 3%)±(1μm+ 3%)±(1μm+ 2%)
±3.5%
(2 mm以上)
±(10μm+ 5%)
測(cè)量速度1,500毫秒
(約40次/分鐘)
【T】 920毫秒
(約65次/分鐘)
【R】 1,600毫秒
(約37次/分鐘)
600毫秒
(每分鐘約70次)
1,300毫秒
(每分鐘約46次)
1,500毫秒
(約每分鐘40次)
600毫秒
(每分鐘約100次)

便攜式薄膜厚度計(jì)型號(hào)代碼指南

[F]黑色金屬材料的非磁性薄膜厚度測(cè)量

[N]有色金屬材料的非導(dǎo)電薄膜厚度測(cè)量

【FN】用一個(gè)探針測(cè)量黑色和有色金屬材料的薄膜厚度

【T】微探針

[M]測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能,數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C

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TQ-50NG16

TQ-100NG16

TQ-150NG16

TQ-200NG16

TQ-300NG16

TQ-500NG16

TQ-1KNG16

TQ-1.5KNG16

TQ-2KNG16

TQ-3KNG16

TQ-4KNG16

TQ-5KNG16

TQ-7KNG16

TQ-10KNG16

TQR-200MNA32

TQR-500MNA32

TQR-1NA32

TQR-2NA32

TQR-3NA32

TQR-5NA32

TQT-2NB57M2G4

TQT-5NB57M2G4

TQT-10NB57M2G4

TQT-20NB57M2G4

TQT-30NB57M2G4

TQT-50NB57M2G4

TQT-70NB57M2G4

LC-10KNE450

LC-20KNE450

LT-5KNG56

LT-10KNG56

LT-20KN

PG-200MPG7

PG-300MPG7

PG-400MPG7

日本電測(cè)膜厚計(jì)QNIx系列

日本電測(cè)膜厚計(jì)QNIx系列

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