基準尺可作為長度追溯標準，用于校準測量
儀器。可使用在投影儀、顯微鏡的工作臺等
光學測量機等測量儀器的日常點檢、定期點
檢。
• 這些刻度都是高精度平板印刷技術做成的。
三豐在專門的地下設施中開發這些技術，是
客戶用來生產高精度刻度的，每種類型都有
不同的尺寸，以便滿足不同應用的需要

 Mitutoyo三豐M Plan ApoNIR 50× 378-825-5

視頻顯微鏡單元
VMU 
大視場視頻顯微鏡單元
WIDE VMU 

精密顯微鏡單元
FS70 
明視場用物鏡
(長工作距離
)
M Plan Apo/M Plan Apo HR 
明視場用物鏡
(超長工作距離
)
M Plan Apo SL 
明視場用物鏡
(玻璃厚度校正)
G Plan Apo
明暗視場物鏡
(長工作距離)
BD Plan Apo/BD Plan Apo HR
明暗視場物鏡
(超長工作距離
)
BD Plan Apo SL
(近紅外區
)
M Plan Apo NIR/M Plan Apo NIR HR,
M Plan Apo NIR B
明視場用物鏡
(液晶玻璃厚度校正 近紅外區
)
LCD Plan Apo NIR/LCD Plan Apo NIR HR 
明視場用物鏡
(近紫外區
)
M Plan Apo NUV/M Plan Apo NUV HR 
明視場用物鏡
(液晶玻璃厚度校正 近紫外區

LCD Plan Apo NUV/LCD Plan Apo NUV HR
明視場用物鏡
(紫外區
)
M Plan UV 
明視場用物鏡
(液晶紫外區
)
LCD Plan UV
成像
(鏡筒
)透鏡
MT 
測量顯微鏡用物鏡
ML 
定心顯微鏡用物鏡
CF 
大視場目鏡
/分劃板
WF/UWF
各種顯微鏡選件
支架、工作臺、照明裝置 
外形尺寸
(VMU/WIDE VMU/FS70
解說：接口螺紋標準
三豐物鏡的光學特性

 陶瓷直線規
311 系列 — 直線度量具
SM-C

• 陶瓷直線規是對機床、三坐標測量機、機床
半導體相關設備以及形狀測量系統中的各軸
移動部件進行檢測的主要量具之一。
• 精密研磨基準面比傳統型號具有更高的精
度。
• 氧化鋁陶瓷制造，具有高抗磨損性，且幾乎
沒有長期變化。
• 有3 種類型(高精度，超高精度和雙面型) 可
供選擇滿足大部分應用的需求。雙面型有2
個基準面，用于檢查2 個直角方向的直線度

Mitutoyo三豐M Plan ApoNIR 50× 378-825-5