日本三豐378-087固定倍率觀察用相機(jī)卡口

 固定倍率觀察用相機(jī)卡口

在激光振蕩器配備規(guī)格的激光接口卡口上安裝 即為雙相機(jī)端口規(guī)格，可以使用兩臺(tái)相機(jī)觀察 同一部位。 適用于2/3型以下相機(jī)(C-Mount規(guī)格)。 

 貨號(hào) 378-087 重量：180g

憑借長(zhǎng)動(dòng)作距離設(shè)計(jì)的物鏡，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的操作性。
與定位器、探針臺(tái)等組合。
通過(guò)與激光加工裝置組合，還可支持不良分析→部分修正無(wú)縫銜接的系統(tǒng)。
此外，還提供支持隔著玻璃的、真空內(nèi)的外觀檢查的系統(tǒng)

 緊湊、輕巧的相機(jī)觀察顯微鏡
適用于金屬、樹脂、印刷表面、微小運(yùn)動(dòng)物體等各種觀察對(duì)象。
·適用于使用YAG激光(近紅外、可見(jiàn)、近紫外、紫外)的微細(xì)加工※ ※不保證激光振蕩器配備系統(tǒng)的綜合性能和安全性。
半導(dǎo)體電路的切割、修整、修正、打標(biāo)、薄膜(絕緣膜)的去除和加工、液晶彩色濾光片等的修復(fù)(修正缺陷)等。
·適用于紅外光學(xué)系統(tǒng)※
硅類的內(nèi)部觀察、紅外光譜特征分析等。※另需紅外光源和紅外攝像機(jī)等。
·反射照明光學(xué)系統(tǒng)標(biāo)配帶孔徑光闌遠(yuǎn)心照明
需要均勻照明的圖像處理。可用于尺寸測(cè)量、形狀檢查、定位等。
·VMU-LB和VMU-L4B強(qiáng)化了顯微鏡主體的剛性和綜合性能(與以往產(chǎn)品相比)
·除標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格外，還可按照需求設(shè)計(jì)制作雙相機(jī)、雙倍率(低倍率、高倍率)等產(chǎn)品

 1：使用物鏡M Plan Apo 1×時(shí)建議搭配使用偏光單元(No.378-710或378-715)。
注)在VMU-LB、L4B上安裝YAG激光振蕩器使用時(shí)， ·請(qǐng)注意激光輸入值和能量密度等。否則可能會(huì)導(dǎo)致光學(xué)系統(tǒng)受損。
·請(qǐng)確認(rèn)激光振蕩器的重量。在高速、高加減速裝置上安裝時(shí)請(qǐng)進(jìn)行咨詢。

  適用于1/2型以下的C-Mount相機(jī)。
聚焦單元B(378-706)請(qǐng)?jiān)谛枰笙薅瓤s小安裝位置與VMU主體的間隔時(shí)使用。
搭配使用手動(dòng)轉(zhuǎn)塔(378-707)時(shí)，請(qǐng)將轉(zhuǎn)塔安裝在VMU主體的正面。安裝方法請(qǐng)參照P.8。
不可與聚焦單元B(378-706)一起使用。
安裝方法請(qǐng)參照P.8。
 使用激光接口安裝C-Mount相機(jī)時(shí)使用。
請(qǐng)?jiān)?/3型以下的相機(jī)中使用。
本公司不提供，敬請(qǐng)咨詢。
安裝時(shí)可能另需適配器，敬請(qǐng)咨詢。

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"ONO SOKKI小野測(cè)器

VC-3200 (S/N:171004038R)"

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Mitutoyo三豐千分尺293-250-30

Mitutoyo三豐千分尺293-251-30

Mitutoyo三豐千分尺422-231-30

Mitutoyo三豐千分尺422-260-30

Mitutoyo三豐千分尺406-250-30

Mitutoyo三豐千分尺406-251-30

Mitutoyo三豐千分尺293-251-30

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OJIDEN腳踏開關(guān)OFL-1-SM2C

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PEACOCK孔雀卡規(guī)LA-23

CITIZEN西鐵城千分表2S-010

ONO SOKKI小野測(cè)器HT-3200轉(zhuǎn)速表

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Mitutoyo三豐顯微鏡單元

Mitutoyo三豐物鏡 紫外、近紫外、可視、近紅外

Mitutoyo三豐顯微鏡單元

日本三豐物鏡(紫外、近紫外、可視、近紅外)

用于半導(dǎo)體、電子、液晶相關(guān)等產(chǎn)品的生產(chǎn)

品質(zhì)管理系統(tǒng)、實(shí)驗(yàn)研究裝置使用的光學(xué)系統(tǒng)

外觀檢查系統(tǒng)的嵌入式光學(xué)單元

微生物等運(yùn)動(dòng)物體的觀察　等

可安裝數(shù)碼相機(jī)，通過(guò)外部顯示器進(jìn)行觀察和拍攝。

可實(shí)現(xiàn)橫向水平、上下顛倒等高自由度的固定方法。

與簡(jiǎn)易支架一起使用，還可作為緊湊型顯微鏡使用。

　★金屬、樹脂、印刷面等表面觀察拍攝

　★微量流體分析用光學(xué)系統(tǒng)

　★以觀察和分析細(xì)胞、微生物等為目的的光學(xué)系統(tǒng)

M Plan Apo NIR系列等支持紅外區(qū)的物鏡組合，可在紅外線下實(shí)

現(xiàn)可見(jiàn)光下做不到的非破壞性檢查。

　★液晶薄膜、硅基板等的厚度測(cè)量

　★MEMS內(nèi)部的非破壞評(píng)價(jià)、三維安裝評(píng)價(jià)

　★半導(dǎo)體封裝(IC)的內(nèi)部觀察、晶圓鍵合空洞評(píng)價(jià)傳感器

　★紅外分光特性分析

緊湊、輕巧的相機(jī)觀察顯微鏡

　適用于金屬、樹脂、印刷表面、微小運(yùn)動(dòng)物體等各種觀察對(duì)象。

·適用于使用YAG激光(近紅外、可見(jiàn)、近紫外、紫外)的微細(xì)加工※ ※不保證激光振蕩器配備系統(tǒng)的綜合性能和安全性。

　半導(dǎo)體電路的切割、修整、修正、打標(biāo)、薄膜(絕緣膜)的去除和加工、液晶彩色濾光片等的修復(fù)(修正缺陷)等。

·適用于紅外光學(xué)系統(tǒng)※

　硅類的內(nèi)部觀察、紅外光譜特征分析等。※另需紅外光源和紅外攝像機(jī)等。

·反射照明光學(xué)系統(tǒng)標(biāo)配帶孔徑光闌遠(yuǎn)心照明

　需要均勻照明的圖像處理。可用于尺寸測(cè)量、形狀檢查、定位等。

·VMU-LB和VMU-L4B強(qiáng)化了顯微鏡主體的剛性和綜合性能(與以往產(chǎn)品相比)

·除標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格外，還可按照需求設(shè)計(jì)制作雙相機(jī)、雙倍率(低倍率、高倍率)等產(chǎn)品