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2S-010FIIS界*表CITIZEN西鐵城

更新時間:2024-07-31

簡要描述:

2S-010FIIS界*表CITIZEN西鐵城
●目量:20μm●指示範囲:±0.5mm●精度±15μm●測定力:0.78N●スピンドル行程:2.8mm●接點容量:DC24V 4mA(抵抗負荷)●測定端子:F-001●裏ブタ:フラットバック(F-M101)●ケーブル:1.5m

型號:廠商性質:經銷商瀏覽量:917
品牌其他品牌電動機功率1kW
外形尺寸1mm重量0.2kg
應用領域環保,電子,電氣

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●目量:20μm●指示範囲:±0.5mm●精度±15μm●測定力:0.78N●スピンドル行程:2.8mm●接點容量:DC24V 4mA(抵抗負荷)●測定端子:F-001●裏ブタ:フラットバック(F-M101)●ケーブル:1.5m

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型式2S-1002S-2002S-0102S-010FIIS
目量1μm2μm10μm20μm
指示範囲±0.05mm±0.1mm±0.6mm±0.5mm
精度±1μm±1.5μm±5μm±15μm
測定力1.18N0.78N
スピンドル行程2.8mm
接點容量DC24V 4mA(抵抗負荷)
標準
仕様
測定端子※1F-001
裏ブタ※2フラットバック(F-M101)
ケーブル1.5m
ゴムベロー※3
オプションレリーズM-140

 

Mitutoyo三豐顯微鏡單元
Mitutoyo三豐物鏡 紫外、近紫外、可視、近紅外

Mitutoyo三豐顯微鏡單元
日本三豐物鏡(紫外、近紫外、可視、近紅外)
用于半導體、電子、液晶相關等產品的生產
品質管理系統、實驗研究裝置使用的光學系統
外觀檢查系統的嵌入式光學單元
微生物等運動物體的觀察 等
可安裝數碼相機,通過外部顯示器進行觀察和拍攝。
可實現橫向水平、上下顛倒等高自由度的固定方法。
與簡易支架一起使用,還可作為緊湊型顯微鏡使用。
★金屬、樹脂、印刷面等表面觀察拍攝
★微量流體分析用光學系統
★以觀察和分析細胞、微生物等為目的的光學系統

M Plan Apo NIR系列等支持紅外區的物鏡組合,可在紅外線下實
現可見光下做不到的非破壞性檢查。
★液晶薄膜、硅基板等的厚度測量
★MEMS內部的非破壞評價、三維安裝評價
★半導體封裝(IC)的內部觀察、晶圓鍵合空洞評價傳感器
★紅外分光特性分析

 

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